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FT160系列

发布时间:2023-12-26 10:24


高性能XRF镀层测试仪,适用于超小部件上的超薄镀层分析

  • 使用多毛细管光学聚焦系统,光斑尺寸<50um
  • 数秒间测试纳米级镀层厚度
  • 高分辨率硅偏移探测器
  • 简单易用的操作软件
  • 强大的数据处理能力


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